阿坝薄膜测厚仪 蓝丝莱

薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
（1）测量范围为0～2mm(常规)(0～6mm可选)；
（2）自动走样，液晶显示(包含配套软件)；
（3）测量速度为(可调)；
（4）测量压力为17.5±1kPa(薄膜)。
仪器配置
标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
选购件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码
非接触式设备
英国公司研发出的非接触式测量方法测厚仪，可以实现对薄膜的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。

薄膜测厚仪根据其测量方式的不同，可分为：
接触式薄膜测厚仪：点接触式，面接触式。
非接触式薄膜测厚仪：射线，涡流，超声波，红外等
注：我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准，包括标淮，国际、美国、日本、欧洲标准等均*采用机械式测厚中的面接触测厚的方式，同时该方法也被作为薄膜，铝箔，纸张等材料的仲裁方法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并*处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
3、纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
4、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
5、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
6、超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
（1）严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。
（2）实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。
（3）系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。
（4）系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板（特点是耐磨；PVC聚氯乙烯polyvinylchloride， 重复单元为的具有无规构型结构的聚合物，是一种通用型合成树脂。根据添加增塑剂的不同，可分为硬质和软质聚氯乙烯两类。）方便用户进行试验操作和数据查看。
（5）标准的RS232接口（RS-232-C接口（又称EIA RS-232-C）是常用的一种串行通讯接口。它是在1970年由美国电子工业协会（EIA）联合贝尔系统、调制解调器厂家及计算机终端生产厂家共同制定的用于串行通讯的标准。它的全名是“数据终端设备（DTE）和数据通讯设备（DCE）之间串行二进制数据交换接口技术标准”），便于系统的外部连接
（1）采用进口优质传感器，测厚分辨率高达0.1微米选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。
（2）大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。
（3）另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的*性存储、查询、打印；软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输