应用范围
采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
执行标准
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
佛山蓝丝莱在线X射线测厚仪，在线B（贝它）射线测厚仪1.适用于各种工艺的生产设备：流延、压延、单向拉伸、双向拉伸、复合等设备2.适用于各种厚度的材料：薄膜、片材、板材3.适用于各种原料：PP\PE\EVA\PVB\PVC\ABS\塑料合金等等4.不受材料是否透明、是否有颜色的影响5.扫描精度可达：正负0.15微米6.测厚仪的核心部件均由我司开发制造，包括：a.高灵敏度传感器（国产测厚仪中好稳定的传感器）b.对于X射线测厚仪，X射线的封装、已经高稳定的X射线电源的开发制造均由我司掌握。c.测量控制软件基于windows系统平台开发的软件,便于操作及维护,*有的硬件和软件双结合抗干扰设计，使我们的测厚仪在技术指标于**。d.设计巧妙的O型扫描架，高刚性、重复性好，无须加入任何润滑剂，避免了对塑料制品的污染，选用高质量的运动部件，基本上不存在易损件。多年的专业设计、制造在线测厚仪的经验，使我们更透彻了解用户的需求，不断精益求精，不断完善产品的细节，产品的技术指标和高稳定的使用水平已经远远于**的产品。
薄膜测厚仪根据其测量方式的不同，可分为：
接触式薄膜测厚仪：点接触式，面接触式。
非接触式薄膜测厚仪：射线，涡流，超声波，红外等
注：我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准，包括标淮，国际、美国、日本、欧洲标准等均*采用机械式测厚中的面接触测厚的方式，同时该方法也被作为薄膜，铝箔，纸张等材料的仲裁方法。
1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并*处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
3、纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
4、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
5、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
6、超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
（1）严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。
（2）实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。
（3）系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。
（4）系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板（特点是耐磨；PVC聚氯乙烯polyvinylchloride， 重复单元为的具有无规构型结构的聚合物，是一种通用型合成树脂。根据添加增塑剂的不同，可分为硬质和软质聚氯乙烯两类。）方便用户进行试验操作和数据查看。
（5）标准的RS232接口（RS-232-C接口（又称EIA RS-232-C）是常用的一种串行通讯接口。它是在1970年由美国电子工业协会（EIA）联合贝尔系统、调制解调器厂家及计算机终端生产厂家共同制定的用于串行通讯的标准。它的全名是“数据终端设备（DTE）和数据通讯设备（DCE）之间串行二进制数据交换接口技术标准”），便于系统的外部连接
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