分辨率0.1 um (小于100um)
测量范围1～2001um
公制/英制可选择
电池电压指示低电压提示
可售卖地全国
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度。
X荧光测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，它也可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，*样品预处理；分析时间短，仅为数十秒；即可分析出各金属镀层的厚度，分析测量动态范围宽，可从0.01M到60M。它是一种能谱分析方法，属于物理分析方法。当镀层样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，探测器探测到这些特征X射线后，将其光转变为模拟；经过模拟数字变换器将模拟转换为数字并送入计算机进行处理；计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
测厚仪产品特性
★进口高精度传感器，保证了测试精度
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
★测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式，更方便客户选择
★配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果
★打印值、小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据
★仪器自动保存多100组测试结果，随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★测厚仪配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小
★软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户
★配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输
1）全量程标定功能：
根据程序预先设定的计算公式，通过组合不同的标样厚度并将其置于射线下测量，以得到一组基准数据，并存于PLC中。
2） 测量功能：
用于实际测量，系统工作时轧制带材通过射线照射，测量头接收后，转化为电压，此电压值与全量程标定模块中所储存的基准数据相比较，通过程序中预先设定的计算公式计算后得到相应的厚度。
3）系统效验功能：
由于工作现场环境复杂，系统工作一段时间后由于各种因素的干扰，系统会产生基准漂移。这时通过系统效验模块可以修复这种漂移，以保证系统测量的准确性
4）自动合金补偿功能：
由于铝合金板材牌众多，合金含量各不相同，而X射线对不同合金的吸收率是有差别的，为了弥补这种差别本系统增加了合金补偿功能（此功能类似于全量程标定功能）
5） AGC偏差输出功能：
通过计算目标厚度与实际厚度的偏差值（单位um）然后把这个偏差值转换为电压，把此电压传送给轧机AGC系统，通过AGC系统来调整轧制的板材厚度。
6） 带材长度计算功能：
通过采集来自编码器的脉冲，计算出带材的长度。然后把长度值与厚差放于同一坐标中，形成长度与厚差曲线，使用户很直观的观察到这卷带材的质量信息，必要时还可以打印出来。
7） 标样控制功能：
主要是为了控制系统所使用标准样片在全量程标定、系统效验和系统测试中能够准确的置于射线下进行测量。
8） C型架控制功能：
控制C型架在导轨上的前进和后退。
LSL6800H-X型射线PVB/EVA测厚仪，于PVB/EVA材料厚度测量。本公司的测厚仪
采用国际上新的X射线探测技术，采用工业计算机集中管理，进行信号采集和处理，实现快
速的、高分辨率的在线测量。测量精度高，可长期稳定运行。
本公司的测厚仪采用国际上新的X射线探测技术，采用工业计算机集中管理，进行信号
采集和处理，实现快速的、高分辨率的在线测量。测量精度高，可长期稳定运行。
测厚仪功能：
●连续在线非接触无损测量
●人机接口提供键盘、鼠标。
●低功耗微机大屏幕显示
●×射线源
●中英文菜单
●“O”型扫描架，扫描宽度可定制
主要技术指标：
●测量范围：板材／片材0.3-5．Omm；
●可联网微机通讯接口（选择）
●**分辨率：0.1-0.15um
●扫描精度≤±0.2%(FS)
●响应时间：1-10ms（可调整）
设备工作流程：
膜片厚度数据采集 >> 下位机数据处理 >> 通过网线传输 >> 上位机数据处理显示在人机界面
如何选择在线测厚仪？
●灵敏度 ●扫描速度
●运行稳定性 ●扫描度
●安全性 ●数据处理方法
我们公司的宗旨：以德为本，以诚取信，以诚信为根本，以质量为基础，以速度求效益”的经营方针来满足广大客户的需求。
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